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DS發射率測量儀技術說明【測量值的測量方法】

文章來源:上海明策 上傳日期:2022-02-28 瀏覽次數:


DS發射率測量儀技術說明【測量值的測量方法】


發光計型號AE – 用于自動曝光測量的滑動方法:

如果需要對原位材料、無法放置在散熱器上的大樣品或導熱系數低的材料進行發射測量,如果表面溫度與校準標準溫度不同,則可能會出現誤差。有必要確保表面溫度與校準標準相同,或計算校正后的讀數。

本文描述了糾正所指示的發射值的兩種技術方法。 這里描述了第三種方法,它避免了計算校正的需要。它需要更大的表面面積,允許達到室溫,就像標準一樣。

首先,儀器在低發射率和高發射率標準上進行校準。然后將檢測器放在要測量的樣品上,并允許大約一分鐘,使檢測器讀數達到接近穩定的值。在此期間,預計表面將直接在探測器下方加熱,因此發射讀數將低于應有的水平。然后,探測器應該在表面上滑動幾英寸到不同的點,而不會中斷與表面的接觸。這將讓探測器測量到已處于正確溫度的樣品區域,因此發射讀數應該增加少量,并且將更接近正確的值,因為表面在探測器下方加熱的時間更少。這個過程可以重復幾次,每次移動到以前沒有測量過的地方,并且該值應該接近穩定的讀數。

 測量值的測量方法有很多,穩定不穩定,準確不準確的話,就看測量的方法是否正確,如果您也有這方面的相關問題,歡迎大家一起來和上海明策的技術工程師們一起探討,更多詳細內容請大家繼續關注我們吧!




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